薄膜材料方阻測試儀FT-331
發(fā)布時(shí)間： 2023-02-24 11:08:25 點(diǎn)擊： 2138
薄膜材料方阻測試儀FT-331
2.電阻率范圍 10^-6～2×10^6Ω-cm
測試電流范圍 0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度 ±0.1%
5.電阻精度 ≤0.3%
6.顯示讀數(shù) 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7.測試方式 普通單電測量
8.工作電源 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W
9.誤差 ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10.選購功能 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻.
11.測試探頭 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
12.標(biāo)準(zhǔn)電阻（選購） 規(guī)格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ
薄膜材料方阻測試儀FT-331
描述：
采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.
二.參照標(biāo)準(zhǔn)：
硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國標(biāo)設(shè)計(jì)制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.
三.適用范圍：
適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動測量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能，自動轉(zhuǎn)換量程；采用芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報(bào)表
用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品
上一頁：低阻雙電四探針測試儀FT-361
